仪器校准触针位置的调整
仪器校准触针位置的调整是确保表面形貌测量精度的关键前置环节。触针作为粗糙度仪、轮廓仪等仪器的核心传感部件,其位置精度直接影响被测表面微观几何特征的准确捕捉。仪器校准时,需重点调整触针与测杆的垂直度(偏差≤0.1°)、触针尖端到测量基准面的距离(通常控制在1~2mm标定范围)以及触针预紧力(保持恒定以避免测量变形)。校准过程通过标准台阶样块或光学基准镜比对,利用微调机构精确控制触针的空间姿态,确保其始终处于最佳测量位置,从而保证采集的表面轮廓信号真实反映被测件实际形貌,为后续数据分析提供可靠的技术基础。
仪器校准触针位置的调整需按照以下步骤操作:
调整步骤
1.零位校准
将触针与被测表面接触,调整仪器使指示信号处于电桥输出零位附近。
2.灵敏度校验
仅适用于带记录器的仪器,需检查记录器垂直放大倍率。若仪器需进行传感器平衡或相位校验,应按说明书操作。
3.粗糙度参数校准
使用校验样板(如单刻线、三刻线样板)对比测量值与标准值,通过人工调节或仪器自动调节使二者接近。
4.针尖检查
通过显微镜观察针尖状态,确保其半径或平头宽度符合规格要求。
注意事项
不同仪器需参照具体说明书操作,上述步骤基于通用流程提炼。
涉及机械调整时需谨慎操作,避免损坏仪器部件。
仪器校准在开始测量前,触针应处于电桥输出的零位附近。对于有表示触针位置的仪器,将触针与被测表面接触,把测杆调到水平即可。
仪器检测灵敏度校验:
这项校验仅使用于带记录器的仪器,以检查记录器的垂直放大倍率。有的仪器在灵敏度校验前,需作传感器平衡和相位校验,应按仪器使用说明书进行。
仪器校验粗糙度参数示值校验:
常用的方法是利用仪器附带的校验样板,将仪器的测量值与样板的检定值比较,通过人工调节(有的仪器会自动进行)使二者的数值尽可能接近。校验样板的型式主要有单刻线样板、三刻线样板,有的便携式仪器采用均匀性较好的机械加工方式制造的校验样板。
仪器校正触针针尖的检查:
触针使用不当会使针尖断裂或加剧磨损,因此要适时予以检查,特别是在测量中发现异常现象时。利用400倍以上显微镜或投影仪,观察触针尖端,必要时测定针尖半径或平头宽度,其尺寸应和规定的针尖半径相当。



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