游标卡尺平面度的检测校准
游标卡尺平面度的检测校准是确保其测量精度的基础环节,其核心是通过计量检测技术精准评估主尺与游标尺测量面的平面几何误差。计量检测时,需采用刀口形直尺、平晶或光学干涉仪等标准器具,将游标卡尺测量面与高精度平面基准进行对比,重点检测测量面与基准面间的透光间隙均匀性或干涉条纹形态,通过分析最大光隙宽度或条纹弯曲度计算平面度偏差值;计量检测过程需在恒温环境下进行以消除热变形影响,并依据JJG 30-2012《通用卡尺检定规程》判定平面度是否达标,从而为游标卡尺的可靠测量提供平面几何精度保障。
游标卡尺平面度的检测校准时测量面的平面度用1级刀口形直尺仪器校验以光隙法检定。
先将基准面置于1级平板上,移动尺身使测量面与平板接触,紧固螺钉使基准面和测量面处在同一平面。
检定时,分别在基准面和测量面的长边、短边和对角线的位置上进行。其平面度的确定同仪器外校高度卡尺
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本文由仪器检定校准中心推出。



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