做中国更具影响力的第三方计量检测机构
同样是技术，我们更创新；同样是质量，我们更可靠;
同样是服务，我们更专业；同样是微笑，我们更真诚!
如何仪器外校高度卡尺测量面的平面度
如何仪器外校高度卡尺测量面的平面度是确保其测量精度的关键环节，其核心是通过专业的仪器检定方法精准评估测量面与理想平面的吻合程度。仪器检定时，需使用刀口形直尺、平晶或光学干涉仪等标准器具，将高度卡尺测量面与标准平面进行对比检测，重点观察两者之间透光间隙的均匀性或干涉条纹的形态变化，通过分析光隙宽度或条纹弯曲度计算平面度偏差值，仪器检定过程还需在恒温环境下进行以消除热变形影响，并按照JJG 30-2012《通用卡尺检定规程》判定平面度是否达标，从而为高度卡尺的可靠测量提供平面几何精度保障。
量爪测量面的平面度用0级刀口形直尺，底座工作面的平面度用1级刀口形直尺以光隙法仪器外校检定时，分别在量爪测量面和底座工作面的长边、短边和对角线的位置上进行。其平面根据各方位的间隙情况确定。
当所有计量检定方位上出现的间隙均在中间部位或两端部位式，仪器外校取其中一方位间隙量最大的作为平面度。如何仪器外校高度卡尺测量面的平面度当其中有的方位中间部位有间隙，而有的方位两端部位有间隙，则平面度以中间和两端最大间隙量之和确定。
本文由高度卡尺校验中心推出。
