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高度卡尺的零值误差仪器校验
高度卡尺的零值误差仪器校验，是确保其基准“零位”准确的关键。仪器校验时，需将高度卡尺底座置于1级平板上，清洁测爪与平板，使测爪尖端与平板轻接触，读取此时示值即为零值误差。仪器校验需重复多次，计算平均值，并评估仪器校验结果的不确定度。零值误差超出允许范围时，需调整卡尺直至仪器校验合格。规范的仪器校验是高度卡尺后续仪器校验尺寸、深度时数据准确的前提，保障精密测量可靠性。
高度卡尺的零值误差仪器校验是确保其测量精度的关键步骤。具体而言，“高度卡尺的零值误差仪器校验”涉及：量爪测量校准面对底座工作面在同一平面时的平行度，在进行高度卡尺校验时，将高度尺置于1级平板上，移动尺框，使量爪测量面与平板正常接触，采用分度值微0.002mm的杠杆千分表仪器校验，校正仪器高度卡尺零值误差将高度尺置于1级平板上，移动尺框，使量爪测量面与平板正常接触（有微动装置的需要使用微动装置），分别在尺框螺钉紧固和松开的两种情况下，用目力观察检定。必要时用放大镜或工具显微镜仪器检定。
仪器校验主打项目：
长度计量校准、力学仪器外校、热工理化仪器检测、电磁仪器外校、无线电仪器检测、
时间频率仪器检测、声学仪器外校、医疗仪器校准、商品量仪器检测
