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使用触针式仪器前计量调整和仪器校验
使用触针式仪器前计量调整和仪器校验是确保表面粗糙度测量精准的关键环节。触针式仪器通过微小触针在被测表面移动，将微观轮廓转换为电信号进行分析，广泛应用于机械加工领域。计量校准前需进行系统性的计量调整，包括触针压力设定、传感器灵敏度校准及测量轨迹校直，确保仪器处于最佳工作状态。随后通过标准粗糙度样块进行仪器校验，对比实测值与标准值，对仪器的放大倍数、滤波参数及示值误差进行精确修正，使测量结果溯源至国家基准，为表面质量评估提供可靠数据支撑。
使用触针式仪器前需完成触针位置调整、灵敏度校验和粗糙度参数示值校验等步骤，具体操作如下：
触针位置调整
将触针与被测表面接触，调整仪器使电桥输出信号处于零位附近。若无触针位置显示，需将测杆调至水平状态。
灵敏度校验
仅适用于带记录器的仪器，通过垂直放大倍率检查确保测量精度。部分仪器需先完成传感器平衡和相位校验。
粗糙度参数示值校验
使用标准样板（如单刻线、三刻线样板）校准Ra参数，对比仪器读数与样板标称值，人工调节至误差最小。校准样板需采用机械加工方式制造，确保表面粗糙度均匀性。
触针针尖检查
定期用400倍以上显微镜观察针尖形态，测量针尖半径或平头宽度，确保尺寸符合规定（通常要求X≥1.5μm且X≤2.5μm）。
（1）针位置的调整
在开始仪器外校测量前，触针应处于电桥输出的零位附近。对于表示触针计量校正位置的仪器，将触针与被测表面接触，调整仪器，使指示信号在零位附近。对于没有表示触针位置的仪器，将触针与被浏表面接触，把测杆计量检测调到水平状态即可。
（2）灵敏度校验
这项校验仅适用于带记录器的仪器，以检查记录器的垂直放大倍率。有的仪器在灵敏度校验前，需作传感器平衡和相位校验，应按仪器使用说明书进行。
（3）粗糙度参数示值校验
常用方法是利用仪器附带的仪器检测样板，将仪器的测量值与样板的检定值比较，通过人工调节（有的仪器会自动进行）使二者的数值尽可能接近。校验样板的型式主要有单刻线样板、三刻线样板、多刻线样板，有的便携式仪器采用均匀性较好的机械加工方式制造的校验样板。
示值校验以Ra参数为主。在校验Ra参数时，充分反映了仪器垂直放大倍率的准确性和滤波特性的正确性。单刻线样板和三刻线样板的沟槽深度主要用于校验仪器垂直放大倍。
本文由仪器校准中心发表。
