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X荧光分析仪CIT-3000SMD(B)/DF(限东北、内蒙地区）
X荧光分析仪CIT-3000SMD(B)/DF作为高精度元素分析设备，其定量结果的可靠性必须建立在系统的计量校准基础之上。该仪器通过X射线荧光原理实现对固体、粉末样品的快速多元素分析，需定期采用有证标准物质对能量刻度、强度-浓度工作曲线及基体效应校正模型进行精密计量校准，以消除仪器漂移与基体干扰，确保检测数据在材料分析、地质勘探等领域的准确性与溯源性。
X荧光分析仪CIT-3000SMD(B)/DF是一款基于能量色散X射线荧光技术的高精度多元素分析仪器，通过激发样品产生特征X射线并检测其能量与强度来快速测定元素种类及含量，为确保检测数据的准确可靠，必须定期进行专业的计量校准（精准校准探测器能量响应、强度线性及元素灵敏度等关键参数），使其在地质勘探、冶金质检、环境监测等领域实现精准可靠的元素分析。
一、应用领域
有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。
二、性能特点：
♦ 样品平台自动升降，工作十分方便；
♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；
♦ 抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量；
♦ 先进的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；
♦ 采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；
♦ 更先进的硅漂移SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。
三、仪器技术指标
（1）测量范围：1-40keV；
（2）可分析元素范围：Na-U；
（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；
（4）分辨率：优于130eV；
（5）最低检出限：Pb≤5ppm；
（6）工作环境温度：0-40℃；
（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）
（8）测量时间：10-2550s（时间可调）
（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；
（10）额定功率：300W；
（11）探测器类型：采用高性能电制冷硅漂移SDD探测器；
（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；
（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm
（14）样品腔尺寸：样品腔：300300100mm
（15）重量：约100Kg
