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X荧光分析仪CIT-3000SMD(B)
X荧光分析仪CIT-3000SMD(B)是用于固态、粉末样品元素快速分析的高精度设备，其通过X射线激发样品并探测特征荧光能谱，实现多元素同步定量检测。为确保分析结果的准确性与可靠性，仪器需定期送至计量机构对能量刻度、强度响应及系统稳定性进行专业仪器检定，保障数据溯源至国家基准，从而在材料、地矿等领域提供具有公信力的元素含量报告。
X荧光分析仪CIT-3000SMD(B)是一款基于能量色散X射线荧光技术的高精度多元素分析仪器，通过激发样品产生特征X射线并检测其能量与强度来快速测定元素种类及含量，为确保其检测性能符合国家标准与行业要求，必须通过严格的仪器检定（全面验证仪器稳定性、重复性及测量准确性等关键指标）来保障其在地质勘探、冶金质检、环境监测等领域的可靠应用。
一、应用领域
有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。
二、性能特点：
♦ 样品平台自动升降，工作十分方便；
♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；
♦ 抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量；
♦ 先进的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；
♦ 采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；
♦ 更先进的硅漂移SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。
三、仪器技术指标
（1）测量范围：1-40keV；
（2）可分析元素范围：Na-U；
（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；
（4）分辨率：优于130eV；
（5）最低检出限：Pb≤5ppm；
（6）工作环境温度：0-40℃；
（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）
（8）测量时间：10-2550s（时间可调）
（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；
（10）额定功率：300W；
（11）探测器类型：采用高性能电制冷硅漂移SDD探测器；
（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；
（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm
（14）样品腔尺寸：样品腔：300300100mm
（15）重量：约100Kg
