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测高仪外校计量概念
测高仪外校计量概念是确保高度测量精准可靠的专业技术规范，其核心是通过计量校准验证测高仪示值与国家或国际标准的高度基准之间的一致性。计量校准过程需在恒温恒湿实验室环境下，使用高精度标准量块或激光干涉仪作为基准，对测高仪的零位误差、量程偏差、重复性及垂直度等关键计量特性进行系统检测，重点分析测量头与工作台的几何关系对测量结果的影响，计量校准合格后需出具具有法律效力的校准证书，为机械加工、模具制造等行业的精密高度测量提供权威的量值溯源保障。
计量校正数显测高仪概念：测高仪外校计量概念是基于以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量，主要用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等。数显测高仪的结构如图1所示。
数显测高仪的分辨力为(0.1——1)mm，量程有500mm、800mm和1000mm等规格，仪器分为0级、1级和2级。数显测高仪的测头由电机驱动，上下运行在防尘的全封闭的不锈钢导轨上。
测量时仪器自动控制测力'保证测量重复精度。外校仪器无需使用交流电源，蓄电池能够反复充电，蓄电池供电的内置空气泵产生的气垫使仪器底部运动平滑、自由。仪器可编制并执行测量程进行半自动测量计量。被测值通过仪器系统计算，即刻在显示单元上显示。
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