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数显测高仪计量检测原理
数显测高仪计量检测原理是基于高精度光栅尺或容栅尺，将测头在垂直方向的位移量转换为脉冲信号，经计数器处理后显示高度值。为确保该转换过程的准确性，必须使用标准量块或步距规对仪器进行系统的计量检测，通过比对测高仪示值与标准块的实际高度，校准其零位误差、线性度及重复性。因此，理解数显测高仪计量检测原理是操作基础，而执行周期的计量检测才是保障其在精密制造、质量检测中高度测量数据可靠的根本。
数显测高仪是以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量计量校准仪器，数显测高仪计量检测主要用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等。
其分辨力为（0.1——1）μm，量程有500mm、800mm和1000mm等规格，仪器分为0级、1级和2级。
数显测高仪的测头是由电机驱动，上下运行在防尘的全封闭的不锈钢导轨上。
测量时仪器自动控制测力，保证仪器检测计量重复精度。
仪器校验无需使用交流电源，蓄电池能够反复充电。
蓄电池供电的内置空气泵产生的气垫使仪器底部运动平滑、自由。
仪器可编制并执行测量程序，进行半自动测量。被测值通过仪器系统计算，即可在显示单元上显示。
数显测高仪的示值误差也可用高度校准量规或双频激光干涉仪器检定。
本文由测量仪器检定中心推出。
