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衰减器的仪器校验方法与流程
衰减器的仪器校验方法与流程是确保其衰减量值准确、保障射频信号控制精度的核心环节。校验需在网络分析仪或专用校准系统上，通过比对衰减器在特定频点下的实际衰减量与标称值，系统仪器校准其插入损耗、频率响应及线性度。规范的仪器校准能有效修正器件老化或适配误差，因此掌握衰减器的仪器校验方法与流程并严格执行，是保证其在通信、测量系统中信号处理可靠性的技术基础。
在衰减器寿命仪器校验试验前，测出从一个方向调节被测衰减器至20db位置时的测量值，然后以相反方向调节被测衰减器至20db位置时的测量值。按以上方法重复三次测得个数值，在寿命试验后，按前面的方法再次测得个数值，并计算其最大与最小值之差，差值不应大于规定的重复性指标。
在对被测衰减器进行全面的仪器校准时，需包含对其耐久性的验证。这通常是在其工作频段的高端点频率下进行测试：通过手动切换其波段开关，或使电控、程控衰减器的继电器动作，达到规定的额定工作周期次数。此后，必须再次执行仪器校准，以确认该衰减器在经受机械或电气磨损后，其关键的电气性能（如衰减量、驻波比）与机械性能均未降低，且仍符合技术规格要求。
为使步进电控或程控衰减器衰减量变化，需馈送给控制端最小电平， 最小电压，最小电流等。衰减器处于非工作状态，经过此温度范围内储存过的衰减器，经恢复到工作温度范围内，各项技术仪器校正指标应满足其产品标准的要求。
