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PCDMIS测头中仪器校验的常见问题
PCDMIS测头中仪器校验的常见问题主要集中在测头配置参数偏差、测针几何形状误差及坐标系转换失准等方面。仪器校验时常出现测头半径补偿值不准确导致测量点位偏移、加长杆或星形测针因重心偏移引发空间姿态误差、以及校验过程中触发阈值设置不当造成误触发等问题。此外，标准球安装偏心、测头模块未正确标定或环境振动干扰也会影响校验精度。这些常见问题会直接导致零件测量数据失真，因此需通过规范校验流程、使用标准校验球定期验证测头参数，并确保校验环境稳定，从而保证PCDMIS测量系统的整体精度和可靠性。
1、在测量过程中，若要添加新的测头校验位置，而原用以校验测头的校正球已被移动怎么办？
此时，只要将原已校验好的（1#）A0B0测头在新位置的校正球上再进行一下仪器校正过程，便可进行其余新添加位置的测头校正了。
2、星形测头的校正
在进行星形测头仪器校准时，时常会发现某方位子测头不能进行校验，原因是会出现测头碰撞的现象。PCDMIS测头中仪器校验的常见问题之一便是测头空间姿态配置不当导致的碰撞干涉，特别是多角度子测头在校验过程中因支撑方向与父测头角度不匹配而无法完成自动校正。解决的方法是一定要将校正球的支撑方向与父测头的角度方向成平行摆放，然后按系统功能便可完成所选方向的5个测尖的自动校正了，从而有效规避测头碰撞风险，确保仪器校验的准确性和完整性。
值得注意的是，在进行每组新位置星形测头的校验前，必须用原已校正好的（1#）A0B0测头在新摆放校正球的位置上进行一下新的校验过程，之后便可顺利完成新的一组星形测头的校正了。
本文出自计量仪器检定中心。
