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SOLR法不要求知道直通标准件的所有信息

SOLR法（标准外推线性回归法）不要求知道直通标准件的所有信息，这种特性在仪器校准中具有重要价值。仪器校准采用SOLR法时，可通过仪器校准数据统计处理，实现仪器校准精度优化。仪器校准运用该方法时，无需仪器校准标准件全参数，简化仪器校准流程。仪器校准基于SOLR法，能够通过仪器校准线性回归分析，提升仪器校准效率。仪器校准利用此外推特性，可降低仪器校准对标准件的依赖。仪器校准结合SOLR法，既能保证仪器校准准确性，又能提高仪器校准适用性。这种仪器校准方法为复杂工况下的仪器校准工作提供了新的技术路径。

SOLR法不要求知道直通标准件的所有信息 [50] 。事实上，任何一个能提供对称（正向/反向）传输系数（互易）的无二端口元件均可用于校准过程。 SOLR对于那些难以使用直通元件的测量装置是很有帮助的：例如，在同轴式应用中，当测量端口是相同性别时，或者当在圆晶片级别上采用的是矩形端口时。仪器校准 SOLR法的精度从根本上取决于一端口标准件（开路，短路，负载），这些标准件要么是理想的，要么其特性是完全已知的。SOLR法不要求知道直通标准件的所有信息是微波校准技术的重要特点，具有显著优势。SOLR法不要求知道直通标准件的所有信息的技术原理：利用互易性二端口元件进行校准。SOLR法不要求知道直通标准件的所有信息的应用场景：适用于难以使用直通元件的测量装置。

QSOLT 与SOLT一样，QSOLT方法要求所有标准件都是已知的。然而，它取消了在VNA第二个端口对一端口标准件进行测量的要求[51]，[52]。这个特性极大地减少了对标准件进行再连接和再测量所花费的时间。然而，需要注意的是用QSOLT法所校准的VNA在它的第二个端口，即在校准过程中未连接一端口标准件处，存在著明显的测量误差[53]。 LRRM LRRM法是第一个明确地用于圆晶片级测量的方法。它是设计用来解决平面集总参数负载中诸如潜在的不对称性，阻抗与频率的相关性[54]等方面的限制的。

然而，就像QSOLT一样，它只在VNA的一个端口对负载标准件进行测量。对于有些应用，这会导致在第二个VNA的端口处进行的测量不太可靠[55]。表2对这些常用的自校准方法在下列指标上进行了一个比较：校准标准件类型校准件的使用从反射和传输测量所得到的误差项（ET）从冗余信息中所得到的结果。

已经商业化了的（CSR）的共面校准标准件：（a）一对短路端，（b）一对开路端，（c）一对负载端，（d）双列内通-直通线，（e）双-回环直通线，和（f）-（g）跨线直通线。这些标准件用于最常见的圆晶片极的校准过程。