苏州千宇光学科技有限公司简介
苏州千宇光学科技有限公司专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。核心事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜橡塑、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求,并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断,目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商。
苏州千宇光学科技有限公司研发中心由光学博士专家团队组成,掌握独立自主的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。与国家计量院、华中科技大学、东南大学、同济大学等知名高校建立产学研深度合作。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力, 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术,优化产品品质,成为精密光学产业最有价值的合作伙伴。
近年来千宇在市场准入以及资质认证方面都取得了突破性的进展。最近取得的资质证书包括:
ISO9001质量管理体系证书
国家专利证书
计算机软件著作
超30项自主知识产权
领军人才企业
国家级科技型中小企业&高新技术企业
应力双折射分布测试仪
型号:PRM-10S/PRM-100S/PRM-100P/PRM-100VR
品牌:千宇光学
千宇光学自主研发的应力双折射分布测试仪PRM系列,集高精度、高速度、高稳定于一身,采用独特的双折射算法,斯托克斯分量2D快速解析,广泛应用于光学薄膜、光学镜片(VR/AR镜头、眼镜片)、透明树脂、玻璃基板(智能手机和平板电脑、TGV)、碳化硅的及波导片应力双折射大小和分布信息测量。
一、核心优势及参数
高精度定量测量的应力分布测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,数据更可靠可溯源
定制核心光学元件显著提升测量精度
二、特点优势
毫秒级别采集速度
一键快速测量应力双折射的大小、方向和分布
5MP像素科学级制冷相机,高均匀光源
科学级制冷相机提供超高分辨率图像与优异信噪比,高均匀光源提升测量的一致性
多波段宽量程,高精度稳定光学系统
全视场圆偏光以及全视场校准,包含多波长测量,光学延迟测量量程大适用于多种材料的双折射测量
测试数据可溯源 高可靠 高精度
应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,可解析多层相位差数据更可靠、可溯源;定制高精度核心光学元件,显著提升测量精度
数据直观可视化,多元分析
二维分布图象,可根据客户要求,输出单点,多点或整面的相位差及光轴分布数据
三、量测项目
相位延迟(°)、光学延迟(nm)应力(MPa)及方位角
四、应用领域
能高速精确地测量光学薄膜、光学镜片(VR/AR镜头、眼镜片)、透明树脂、玻璃基板(智能手机和平板电脑)、碳化硅的应力双折射大小和分布信息。
微区应力分布测试仪
千宇光学自主研发的微区应力分布测试仪PRM-10S-MV,集高精度、高速度、高稳定于一身,采用独特的双折射算法,微区应力快速解析。广泛应用于TGV、光学镜片、透明树脂、玻璃基板、碳化硅的及光波导应力双折射大小和分布信息测量。
一、核心优势及参数
高精度定量测量的应力分布测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,可进行绝对值标定,可溯源
定制镜头,拍摄效果理想,视场更大、无畸变
二、特点优势
毫秒级别采集速度
搭配定制镜头,一键快速测量微区应力双折射的大小、方向和分布,微米量级的应力测量
5MP像素科学级制冷相机,高均匀光源
科学级制冷相机提供超高分辨率图像与优异信噪比,高均匀光源提升测量的一致性
多波段宽量程,高精度稳定光学系统
全视场圆偏光以及全视场校准,适用于多种材料的双折射测量
测试数据可溯源 高可靠 高精度
应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,可进行绝对值标定,数据更可靠、可溯源;定制高精度核心光学元件,显著提升测量精度
数据直观可视化,多元分析
二维分布图象,可根据客户要求,输出单点,多点或整面的相位差及光轴分布数据
四、应用领域
能高速精确地测量TGV、光学镜片、透明树脂、玻璃基板、光波导、晶圆的微区应力双折射大小和分布信息
PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪
一、产品介绍
测试对象:偏光片、双折射材料、离型膜、补偿膜
测试项目:1.补偿膜的波长分散性、面内补偿值Re、厚度方向补偿值 Rth三维折射率、全波段透过率、光轴方向、预倾角 Beta;偏光片的透过率(单体、平行、直交)、偏光度,色度(Lab)等
2.复合膜的贴合角测试:偏光片与波片(圆偏光)的贴合角、相位差及全波段椭圆率
3.偏光片:吸收轴角度测试,透过轴角度测试新开发功能:液晶盒厚、预倾角和扭曲角测试
二、优势特点
1、可以测试0-20000nm的相位差范围
2、可实现超低相位差测试,可解析Re为1纳 米以内基膜的残留相位差
3、 高相位差测试,可对离型膜、保护膜等高 相位差样品进行检测
4、搭载多波段光谱仪,检测项目涵盖偏光片各 光学性能,高精密高速
PLM-100S相位差贴合角测试仪
一、产品介绍
测试对象:偏光片、相位差膜、光学膜
测试项目:
1.可测试单层补偿膜的波长分散性、面内补偿值 Re、光轴方向(快轴和慢轴)、透过率、颜色
2.单层偏光片的透过率(单体、透过、直交)、偏光度、色度(L a,b)、吸收轴(反射轴)透过率、透过 轴透过率、消光比
3.复合膜的贴合角测试:偏光片与波片(圆偏光)的贴合角、相位差及全波段椭圆率
二、优势特点
1、快速测试相位差贴合角
2、采用高精度探头,测量更稳定
3、采用进口高精度转台,可实现精准测量
4、提供贴合角、偏光度等更丰富配置
5、可提供计量检测报告,验证设备可靠性
PLM-10S吸收轴角度测试仪
一、产品介绍
测试对象:偏光片/光学膜
测试项目:吸收轴角度
透过率(单体、平行、直交)
吸收轴(反射轴)
透过率
透过轴透过率
偏光度
消光比
二、特点优势
1、快速测试吸收轴角度
2、采用高精度探头,测量更稳定,重复性<0.01°
3、使用长寿命光源,约20000小时
4、采用进口高精度转台,可实现精准测量
5、提供透过率、偏光度等更丰富配置
6、可提供计量检测报告,验证设备可靠性
PTM-10S在线超高速偏光膜光轴测试
一、产品介绍
超宽幅偏光片拉伸
其制造难度与性能要求远超常规偏光片。在超宽幅偏光片的拉伸工艺中,吸收轴的精确控制是决定产品光学性能的核心环节
反射式偏光膜
此类膜材广泛应用于LCD、OLED、AR/VR的高端显示技术,通过多层膜叠加涂布提升光效,但材料的反射轴、透过率均匀性较难管控
千宇光学的在线超高速偏光膜光轴测试PTM-10S采用高光效、长寿命光源以及高速度、高精度、高分辨率探测器可对短波、长波进行处理,让吸收轴偏差、透过率波动等核心参数无处遁形。
二.特点优势
高光效光源:纳米级光谱稳定性
使用圆偏(99.9%)高均匀、高稳定、长寿命、低衰减、无频闪、无辐射、低能耗光源
可支持多组探头同步测量:速度和精度的双重飞跃
毫秒级数据采集与处理,更适用于产线超高速测量;重复性更高,检测整张/卷材料的光轴均匀性
超宽幅偏光片拉伸:全像素级超宽幅掌控
多点位校准装置,实时解析、校准及光谱补偿,在PVA膜拉伸过程中 实时解析吸收轴方位角分布,吸收轴超长期重复测试精度≤0.01
丰富的软件定制功能:个性化数据显示、异常预警等
基于多年在线测试产品经验,可灵活定制软件
PLM-20S吸收轴在线测试仪
一、产品介绍
测试对象:偏光片、RP 膜、各种波片、PANCAKE 贴合膜
测试项目:吸收轴角度、快慢轴、贴合角。可以追加相位差、椭圆率等
二、特点优势
1、采用真空吸附辅助放置样品,上下同心压片,全方位固定样品
2、可根据客户要求,指定多点测试,软件均一性绘图
3、可检测整张材料的单体/平行/直交透过率,偏光度及均一性
4、采用高精度转轴及高灵敏度探头,能实现更高精度的绝对值测量
5、光源采用高稳定,长寿命光源,可使用2万小时以上
偏光应力仪
型号:EPR-100/EPR-100P
品牌:千宇光学
偏光应力仪 EPR-100适用于各种玻璃器皿、玻璃计量量具、玻璃容器、药用和食品包装用玻璃瓶等玻璃制品内应力值测定,仪器可定性和定量测试玻璃内应力,液晶屏可直接读取结果,设计小巧新颖,广泛应用在制药企业、玻璃制品厂、质检等单位。
一、核心优势
应力测试数据指标源于自研的高精度光谱式测试仪可测试相位差绝对值,数据更可靠、可溯源
定制核心光学元件,波片、偏光片采用高精度贴合工艺协同优化,显著提升测量精度
二、应用领域
适用于玻璃量具、药用玻璃瓶、口服液瓶、安瓿瓶、塑料瓶胚、宝石制品以及其他玻璃容器内应力值测定
三、标准
YYBB00332002-2015、YBB00162003-2015、GB12415、GB4545
四、性能优点
01 5英寸触摸显示人机交互,实时显示光程差及应力值;100P配备大液晶显示屏,图像可视化,观测过程更加直观、清晰
02 定性、 定量两种试验模式,试验空间可调,适用范围广
03 LED高偏振度光源,长寿命, 低维护成本
04 高精度绝对式角度编码器,测量精度优于 2.0nm
05 配备微型打印机,快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值;
06 人体工程学和模块化设计:方便用户使用和维护
五、测试原理
EPR-100 偏光应力仪,是集应力检测、数据计算、波晶显示、打印输出等多种功能于一体的光学玻璃及透明塑料制品内应力检测仪器。仪器配备全波片和四分之一波片,不仅可以根据偏振场中的干涉色序,定性判断玻璃制品的内应力大小及分布;也可以采用补偿法定量测定玻璃的内应力数值。
偏振亮度计
一.核心优势
1 亮度和色度测量的标准设备
2 增设检偏探头可测试圆偏光屏及线偏光屏的圆偏度、相位差、方位角
二.应用领域
显示器、照明器具等亮度、色度、色温度特性、对比度测定、配光特性等所有光学特性评价指标
高精度测定汽车仪表盘、音响、操作面板等细微面的亮度、色度
其他交通标志、信号灯、各类特种光源的光品质评价
三.性能优点
1.高速度、高精度绝对值测定,实现从低亮度到高亮度的高动态范围精确测量
2.电动切换2/1°/0.2°/0.1°测量角度,适用不同的应用场景
3.先进的光学设计与信号处理技术结合
4.超低的偏振误差及杂散光
5.宽广的动态测量范围
6.使用标配应用软件,可进行丰富的数据处理及控制主机
四.自动化测试
该设备可进行自动化测试,搭配三轴或五轴平台测试0-360°方位角及士80°视场角
MSC-100L在线显微分光检测仪
一、测试功能:
1.颜色:LAB,LCH,XYZ等颜色空间
2.可见光反射率:可见光380-780nm(其他波段可定制)
3.黄度指数YIE313
4.光通量
5.光强
6.色温
7.显色指数
8.可见光透过率(选配)
9 .其他测试内容可增加
二、设备主要特点及优点
1、高速测量:千分之一秒级别测量速度使用进口高速采集光谱传感器,长期稳定性更高,测试速度快,可用于流水线实时监控,测试速度1-300ms,可根据客户实际情况进行调整
2、光斑大小可预设置:光斑大小40μm-2mm(可定制更小光斑),便于测试微小产品;显微镜头可选配5X,10X,20X,50X , 对应不同测试光斑
3、更高的波长精度:光谱范围380-780nm(可拓展),光谱间隔1nm,半波长精度可达到0.2nm,可进行1nm以内的波长校准,从而减小机差,且可提供长期稳定的光谱测量。使用芯片级稳流光源,光源跳变万分之2以内可溯源性:严格按照国家计量标准进行标定
4、使用高清工业相机:高清工业相机可定位测试产品位置测试光斑可聚焦,测试数据更精确
5、设备软件:可提供软件开发包:便于自动化抓取相关数据
PRM-90S成像式应力测试仪:精准成像,掌控材料应力分布全貌
一、引言
在光学材料与制造领域,应力的精准检测至关重要。残余应力的存在会显著影响光学材料的性能与可靠性。
光学性能劣化:应力会导致镜片的表面变形、折射率发生变化等,影响镜片成像质量;
机械强度下降:应力会降低镜片的机械强度和稳定性,过大可能导致破裂或者疲劳损伤;
热稳定性受损:应力会影响镜片的热稳定性,过大可能导致镜片在高低温环境下的性能波动加剧。
因此,准确、可靠地检测并表征光学材料内部的应力分布,已成为保障光学元件性能与寿命的核心环节。
二、应力分布测试原理
光学材料的应力主要来自两个方面:内部应力和外部应力。内部应力是由材料的制备过程和结构导致,如晶体材料的晶格缺陷、材料的热膨胀系数不匹配等。外部应力则是来源于外界环境的作用,如机械压力、温度变化等。
内应力截图面
应力分布测试的核心原理是光弹性效应。当光通过具有双折射特性的材料时,会分裂成两束偏振态与传播速度各异的光线。
通常情况下透明的各向同性的介质材料(如玻璃、树脂)在压力或张力的作用下,折射率特性会发生改变,从而呈现出光学上的各向异性。通过精密分析材料中光的传播方向和偏振状态的变化,可实现对应力分布的定量解析。
圆玻璃板应力双折射测量方向
三、内应力分布测试解决方案
千宇光学自主研发的成像式应力测试仪PRM-90S,集高精度、高速度于一身,采用独特的双折射算法,斯托克斯分量2D快速解析。
能高速精确地测量光学薄膜、光学镜片(VR/AR镜头、眼镜片)、透明树脂、玻璃基板(智能手机和平板电脑)的应力双折射大小和分布信息。其一次测量即可全面掌握视野范围内样品的应力分布,测量范围0~147nm,并提供直观的二维图表数据。
这款内应力分布测试仪可量测相位差分布和光轴角度分布,应力测试数据指标源于自研的高精度光谱式相位差测试仪 PLM-100P,依据权威测试标准,验证定量数据可靠性。
毫秒级别采集速度
一键快速测量应力双折射的大小、方向和分布
5MP像素科学级制冷相机
提供超高分辨率图像与优异信噪比
高精度稳定光学系统
均匀圆偏光光学系统,测量重复性o≤0.2nm,创新采用多波段、高偏振度 LED 光源,可选波长:525nm, 545nm, 575nm, 590nm, 650nm
多波段高偏振度LED切换替代传统滤光片
消除斜入射偏振误差、中心波长偏移、机械运动等问题,实现高精度、高稳定性测量
数据直观可视化
可根据客户要求,输出单点,多点或整面的相位差及光轴分布数据
四、实测案例
测量镜片光学膜应力,所测色框区域相位差均值46.179nm,相位差分布直方图:均值46.215nm,无滤光片系统消除机械运动、波长漂移等误差,相位差重复性≤0.2nm
相位差均值46.179nm 分布直方图-均值46.215nm
结语
随着光学技术向超精密、微型化、多功能化蓬勃发展,材料内部的残余应力检测的重要性愈发凸显,其精确程度直接关系到光学产品最终的质量优劣。
千宇光学洞察光学材料“内伤”,高精高速的PRM-90S成像式应力分布测试仪,让残余应力无处遁形,为光学制造保驾护航。
精准量化玻璃通孔(TGV)应力,赋能未来封装
一、引言
从材料到设计,从制造到封测,微区应力正在重构高端电子产业链的质量话语权。如TGV、光波导等高端器件市场,决定它们性能与良率的,往往是微米尺度的内应力。
光学/电学性能劣化:应力导致玻璃的表面变形、折射率发生变化等,引起成像质量及电子迁移率的降低;
机械强度下降:玻璃通孔成型过程,激光钻孔对脆性的玻璃材料造成“创伤”,应力降低玻璃的机械强度和稳定性,加工工艺引起芯片互连失效、界面脱粘;
热稳定性受损:填充金属与玻璃的CTE不匹配,产生显著的热机械应力,严重影响产品的可靠性和性能
因此,准确、可靠地检测并表征TGV(玻璃通孔)的微区应力分布,是从实验室走向规模化量产,确保其高性能、高良率与高可靠性的必经之路。
二、测试原理
TGV玻璃通孔三维互连结构复杂,除了机械应力,多种材料间热膨胀系数不匹配引起的热应力将影响器件和封装的性能和可靠性,针对玻璃通孔三维互连技术的应力和可靠性测试势在必行。
薄板玻璃 打孔 孔内金属化 研磨、减薄
应力分布测试的核心原理是应力双折射效应。当光通过具有双折射特性的TGV材料时,会分裂成两束偏振态与传播速度各异的光线。
应力双折射
搭配微区成像的显微系统,通过精密分析材料中光的传播方向和偏振状态的变化,从而推算出相位延迟量可实现对TGV应力分布的定量解析。
三、应力双折射分布测试解决方案
千宇光学自主研发的微区应力分布测试仪PRM-10S-MV,集高精度、高速度于一身,采用独特的双折射算法,全视场圆偏光下的相位测量。
主要用于晶圆、光学镜片、透明树脂、TGV玻璃基板及光波导的应力双折射大小和分布信息。
千宇光学具备从光学元件到整机光学系统的全链条量测能力,应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,可进行绝对值标定,可溯源。
产品特点
1.毫秒级别采集速度,高精度
搭配定制镜头,一键快速测量微区应力双折射的大小、方向和分布,微米量级的应力测量
2.5MP像素科学级制冷相机,高均匀光源
科学级制冷相机提供超高分辨率图像与优异信噪比,高均匀光源提升测量的一致性
3.多波段宽量程,高精度稳定光学系统
全视场圆偏光以及全视场校准,适用于多种材料的微区双折射测量
4. 完善数据管理
二维分布图象,输出单点,多点或整面的相位差及光轴分布数据
四、实测案例
TGV微区量测
单孔查看 多孔测量
千宇定制镜头测试 显微镜测试
无畸变,成像效果理想 拍到侧壁,产生畸变
结语
随着光电技术向超精密、微型化、多功能化蓬勃发展,TGV内部的应力分布检测的重要性愈发凸显,其精确程度直接关系到光电产品最终的质量优劣。
千宇光学洞察TGV玻璃通孔“内伤”,高精高速的PRM-10S-MV微区应力分布测试仪,让残余应力无处遁形,为光学制造保驾护航。
精准洞察材料内应力 | 数显偏光应力仪EPR-100P
一、引言
在透明材料制造领域,内应力是影响产品质量与安全性的关键因素。
内应力可能导致玻璃制品在后续加工或使用过程中发生破裂,尤其对药用玻璃容器而言,更直接关系到用药安全。
为此,我们推出基于自研光学系统高精度的数显偏光应力仪EPR-100P,为检测光学残余应力提供可靠的解决方案。
二、测试原理
偏光应力仪是集应力检测、数据计算、液晶显示、打印输出等多功能于一体的内应力测量仪器。适用于玻璃量具、药用玻璃瓶、口服液瓶、安瓿瓶、塑料瓶胚、石英、宝石制品以及其他玻璃容器内应力值测定。
该仪器配备高精度1/4波片和全波片,提供两种测量方法:
定量测量(Senarmont补偿法):仪器配备1/4波片,采用补偿法定量测定玻璃的内应力数值。
定性测量(比色法):仪器配备全波片,根据偏振场中的干涉色序,观察干涉颜色情况,定性判断玻璃制品的内应力大小及分布。
三、数显偏光应力测试解决方案
千宇光学自主研发的偏光应力仪 EPR-100P,集高精度、高速度于一身,定性、 定量两种试验模式,数据直观显示。
千宇光学具备从光学元件到整机光学系统端到端的量测能力,应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,依据权威测试标准,验证数据可靠性。
此外,采用定制核心光学元件(全波片、四分之一波片、偏振片)具有优异的精度和一致性,为测量准确性提供坚实基础。
产品特点
1.稳定可靠的光学系统
采用高偏振度LED光源,使用寿命长,维护成本低
高精度绝对式角度编码器,测量精度优于2.0nm
2.双重检测模式
定性、 定量两种试验模式,满足不同精度需求
试验空间可调,适应多样尺寸样品检测要求
3.智能交互,直观显示
5英寸高清触摸显示屏,操作界面简洁直观
实时同步显示角度值、光程差值、应力值测量结果
选配大尺寸液晶屏实现检偏图像可视化,观测效果清晰准确
4. 完善数据管理
内置微型打印机,可实现检测结果的即时输出
自动统计最大值、最小值及平均值,生成完整检测报告
四.测试标准
符合国家标准:YYBB00332002-2015、YBB00162003-2015、GB12415、GB4545
在线超高速偏光膜光轴测试光学检测技术点亮偏光未来
当前显示技术的不断创新与应用领域的持续拓展,超大尺寸、超薄、高透以及柔性等特性已成为偏光片行业的新趋势。除LCD市场外,OLED、车载、AR/VR等领域的精细化、高端化偏光片产品也正迎来前所未有的市场浪潮。
偏光片领域是显示技术创新的前沿阵地。一方面偏光片的行业壁垒较高,主要包括技术壁垒、客户壁垒;另一方面超薄、高透等偏光片产品对生产控制和工艺控制也提出了严苛要求,需要满足各项光学指标,任何一个参数出问题都会影响到终端产品。
吸收轴&透过率的双重博弈
偏光片作为显示技术中的核心组件,本质是通过聚乙烯醇(PVA)膜定向拉伸形成吸收轴(Absorption Axis),配合保护层与压敏胶构建光学各向异性结构。
其光学特性诸如透过率、偏振度、贴合角和吸收轴等参数,直接决定了偏光片在显示中的效果。因此精准控制各项参数,是确保终端产品具备卓越光学性能的重中之重。
1.吸收轴方位角精度:吸收轴角度是指透过光线在某一偏振方向呈现吸收状态(透光率最低),此光轴跟基准边的夹角。
2.透过率均匀性:影响显示面板的亮度一致性,APF膜(Advanced Polarizing Film)的相位差层涂布工艺中,局部透过率差异会直接导致屏幕出现"阴阳屏"现象
3. 正交消光比:吸收轴与透过轴的空间正交性偏差会显著降低对比度,影响显示屏成像效果
偏光片产业迈向超宽幅升级
1.超宽幅偏光片拉伸:
超宽幅偏光片是显示行业向大尺寸、高效能制造升级的核心材料,主要应用于大尺寸显示领域。
其制造难度与性能要求远超常规偏光片。在超宽幅偏光片的拉伸工艺中,吸收轴的精确控制是决定产品光学性能的核心环节。
工艺难点
拉伸温度场不均匀、张力波动会引起色偏等光学参数
纵向横向拉伸,导致吸收轴不均匀
2.反射式偏光膜:IQPS、IQPE、APF等:
此类膜材在行业当中被定义为增亮型偏光膜,广泛应用于LCD、OLED、AR/VR等高端显示技术。通过多层膜叠加涂布提升光效,但材料的反射轴、透过率均匀性较难管控。
千宇在线超高速偏光膜光轴测试
传统检测技术受限于速度、精度与覆盖率的矛盾,已经成为行业升级的瓶颈。千宇光学的在线超高速偏光膜光轴测试PTM-10S采用高光效、长寿命光源以及高速度、高精度、高分辨率探测器可对短波、长波进行处理,让吸收轴偏差、透过率波动等核心参数无处遁形。
高光效光源:纳米级光谱稳定性
使用圆偏(99.9%)高均匀、高稳定、长寿命、低衰减、无频闪、无辐射、低能耗光源
可支持多组探头同步测量:速度和精度的双重飞跃
毫秒级数据采集与处理,更适用于产线超高速测量;重复性更高,检测整张/卷材料的光轴均匀性
卷对卷48h实测数据
超宽幅偏光片拉伸:全像素级超宽幅掌控
多点位校准装置,实时解析、校准及光谱补偿,在PVA膜拉伸过程中实时解析吸收轴方位角分布,吸收轴超长期重复测试精度≤0.01
丰富的软件定制功能:个性化数据显示、异常预警等
基于多年在线测试产品经验,可灵活定制软件
高精度、高稳定、高效率的在线偏光膜光轴测试势在必行。除此之外,千宇光学凭借着相位差测试、应力检测、在线显微分光、近眼显示测量等诸多检测方案,已广泛应用于LCD、 OLED、AR/VR等行业,为客户提高良率,助力产品升级。
千宇光学内应力测试仪点亮光路视界 检测显示格局
随着当前智能座舱、AR/VR、3C电子的光学技术的蓬勃发展,光学材料产业规模逐年增长,性能要求也越来越高。据相关数据显示,2023年全球光电产业市场将进入稳定发展阶段,达到1.4万亿美元,同比增长约10%。
而光学材料在制造过程中常常会产生应力,这些应力若得不到有效的检测和控制,会对材料的性能和使用寿命产生严重影响。因此,准确、可靠地检测光学材料中的内应力成为了光学检测环节中的重中之重。
万物智能,技术先行。精密光学的发展离不开底层检测技术的突破。千宇光学多年来专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。集软硬件结合、品质监控、数据监控一体的高精密定量的应力检测仪器校准技术为精密光学商业化落地保驾护航。
应力介绍
光学材料的应力主要来自两个方面:内部应力和外部应力。内部应力是由材料的制备过程和结构导致,如晶体材料的晶格缺陷、材料的热膨胀系数不匹配等。外部应力则是来源于外界环境的作用,如机械压力、温度变化等。
内应力截图面
应力检测的原理在于当光通过各向异性材料时,光的传播方向会对应力敏感,因而光的偏振状态会发生变化。通过观察材料中光的传播方向和偏振状态的变化,对应力分布进行定量分析。
圆玻璃板应力双折射测量方向
测量的重要性
光学性能:应力会导致镜片的表面变形、折射率发生变化等,从而影响镜片的成像质量
机械性能:应力会降低镜片的机械强度和稳定性,应力过大可能导致镜片的破裂或者疲劳损伤
热稳定性:应力会影响镜片的热稳定性,应力过大可能导致镜片在高低温环境下的性能下降
检测设备
千宇光学自主研发的成像式内应力测试仪PRM-90S,高精高速,采用独特的双折射算法,斯托克斯分量2D快速解析。适用于玻璃制品、光学镜片等低相位差材料的内应力测量。
这款内应力测试仪可量测相位差分布和光轴角度分布,应力测试数据指标源于自研的高精度光谱式相位差测试仪 PLM-100P,依据权威测试标准,验证定量数据可靠性。
性能优点
超高速一键式精准测量
样品相位差分布图像与统计
5MP高成像质量
设备性能稳定,重复性优
LED高偏振度光源,长寿命, 低维护成本
可根据客户要求,输出单点,多点或整面的相位差及光轴分布值
定制选项丰富,可根据被测样品的尺寸,定制镜头及光源尺寸
镜片光学膜量测
相位差均值46.179nm 分布直方图-均值46.215nm
点亮光路视界 检测显示格局!千宇光学在光学检测领域从专注到专业,从相位差测试到内应力检测,从传统行业到前沿技术领域,用核心技术不断打破自我边界,成为精密光学产业最有价值的合作伙伴。
千宇在线光轴检测助推光学产业商业化进程
近年来,精密光学制造行业实现了较快发展。在人工智能、车载、AR/VR等应用领域需求不断扩大的刺激下,光学产业快速增长。SPIE发布的报告《Optics& Photonics Industry Report2022》显示,全球核心光学和光子组件行业规模将不断扩大,市场规模在2023年或2024年达到4000亿美元,发展前景广阔。
千宇光学多年来专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。产品覆盖LCD、OLED、VA、AR等上中下游各段光学测试需求,并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断,目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商。
光轴检测
光学模组作为光学设备的重要组成部分,包含光学设计、透镜加工、透镜贴合、组装等多个流程。贴合的工艺是其成像质量的关键因素,需要考虑精度、杂散光、光轴对准调焦、脏污等问题。
曲面贴合介绍
曲面贴合作为光学模组重要工艺可以获得更优的成像质量,工艺难点在于屏幕和折叠光路复合光学膜的贴合,多层高精密光学膜片叠加贴覆,每一层膜片都有精准极致的贴合要求,以确保光路在高度放大折射后仍有身临其境的真实感官,光学检测的重要性犹如凸显。
测量的重要性
相位差测试:可管控原材料是否是1/4波片,及实际贴合后相位差的变化量是否超出规格
光轴检测:可管控原材料及裁切后光轴是否是自己需要的角度
复合膜的贴合角测试:当完美线偏光及完美1/4波片成45度或者135度贴合时候,会呈现完美的圆偏光(右旋/左旋)
椭圆率:全波段椭圆率可判断圆偏光的理想状态(理想圆偏光的椭圆率为1)95%以上
光轴测量技术的痛点
01 曲面贴膜过程中,平面的QWP和POL受拉伸后,可能存在整面光轴分布不均匀的风险
02 曲面区域检测,检偏器无法得到正确数据,导致传统检测仪器只能测量曲面镜片正中间的光轴状况
03 检测设备输出结果为工装与产品的角度θ1,并非产品真实夹角θ2
千宇光学以多年积累和掌握的检测经验和技术,对关键部件的结构及功能参数进行综合优化,其自主研发的探头在解决以上问题效果显著。
采用真空吸附辅助放置样品
上下探头采用精密对位,保证测试稳定性,实现对干扰光线的过率处理
多点位按需测量,可以更好反应整面光轴状态
千宇In-line 定制化方案
客户是一家专注于MR&AR光学领域,专业于偏振光学光轴对位、曲面成型贴膜等工艺技术开发和落地的高科技企业。
出于对曲面AA检测可靠的考虑及对品质的极致追求,客户对检测功能提出了极为严苛细致的要求,并对曲面AA检测设备的核心检测部件——探头的产品性能、品质考量极为谨慎。客户先后对POL、RP 、QWP、复合膜的相位差、椭圆率、透过率、偏光度等多方面性能进行了多轮测试。
最终,千宇在线检测探头稳定高效的性能,细致的一站式技术研发生产服务和优越的解决方案设计能力,通过了重重考验,得到客户青睐及信任,并选择导入千宇高精密检测探头来作为曲面AA检测设备的核心组件。
性能优点
千宇在线光学探头使用Muller方法的高端偏光相位差为国内首创,且自主研发可解析多种光学性能。
可根据客户要求,指定多点测试,软件均一性绘图
可检测整张材料的吸收轴角度、贴合角、相位差及均一性
可检测整张材料的单体/平行/直交透过率,偏光度及均一性
采用高精度转轴及高灵敏度探头,能实现更高精度的绝对值测量
光源采用高稳定,长寿命光源,可使用2万小时以上
应 用 场 景
千宇光轴检测满足QC及研发测试需求的同时,可根据客户需求,进行In-line 定制化测试,适用于VR、AR、产品,实验室和产线等所有应用场景 。
01 Pancake曲贴后光轴检测
超短焦光学折叠光路(Pancake)方案由于视场角相对较小,设备轻量化、便携性优势显著,逐渐成为消费级VR光学的发展和进化方向。
Pancake光路精度高敏感,对位要求严苛,在进行屏幕、透镜等组装时需严格按照既定光路设计完成,细微角度差异会导致光学模组整体的光路变化,因此高精度AA设备在Pancake组装过程中起到关键的效率和良率提升作用。
千宇在线光轴检测探头作为高精度AA设备核心组件可检测产品任意位置的QWP快慢轴或POL的透过轴相对Lens 外形夹角以及测量产品的任意位置的相位差、椭圆率、透过率。
02 模切光轴检测定位
检测光轴方向用于偏光片外形的切割 (QWP & RP & POL ......)
检测光轴方向用于偏光片外形的修边
检测光轴方向用于偏光片小例分切的定位
检测光轴方向用于小例切割定位边的定位
03 贴合光轴对位
复合膜贴合:对位找补光轴,确保多层光学膜按光学夹角进行对准贴膜 (QWP & RP & POL ......)
偏光片+镜片贴合:对位找补光轴,确保镜片与光学膜及多次光学膜贴膜时,按光学夹角进行对准贴膜
偏光片+OLED&LCD贴合:对位找补光轴,确保显示屏上方贴附偏光片和QWP时,按光学夹角对准贴合
曲面AA检测对在线探头的光轴检测进行了全方位高标准的大考。千宇光学凭借高精度、高稳定以及自主研发的优势,助力曲面AA检测的性能提升,协力推进精密光学领域商业化、规模化发展新进程。
人才招聘
领先的光学检测技术,优厚的薪资福利。
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提供专业培训,光学博士团队。
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邮箱:jing.wang@oec-tech.com



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