X射线荧光光谱仪（XRF）

X射线荧光光谱仪（XRF）

X射线荧光光谱仪（XRF）作为一种快速、无损的元素分析技术，其定量分析结果的准确性与可靠性必须建立在严格的计量校正基础之上；通过使用有证标准物质进行校准与周期性验证，可以有效校正仪器漂移与基体效应，从而确保从微量到常量成分的测量数据精准可比，满足质量控制与科研探索的严格要求。

厦门市计量检定测试院配备了X射线荧光光谱仪（XRF），是一种快速、定量检测多元素仪器，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。样品可以是固体、粉末、熔融片等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。 

无标半定量方法能够对各种形状样品进行定性分析，并得到半定量结果，结果准确度对于某些样品能够接近定量水平，分析时间短。同时也可进行无损检测，测试结果能够获得高准确性和长期精确性。有标样品可以做定量分析。 

一、仪器信息

仪器名称：X射线荧光光谱分析仪

英文名称：x-ray fluorescence spectrometer

生产制造商：日本RIGAKU

型号：ZSX PriumsIV 

二、主要技术参数

1.X射线管：4kW铑靶（30μm超薄型）

2.高压发生器最大功率：60KV，150mA，4.0KW

3.分析模式：定性定量、无标样近似定量，CCD

4.测量样品的最大尺寸：直径50mm，高30mm

三、应用领域

高分子材料、金属材料、无机非金属材料和不挥发液体等。 

四、服务范围

元素分析（元素序数范围为硼至铀）、纯度鉴别、产品检验等。 

五、XRF测试项目

1.未知样品全元素半定量分析（Be4-U92）

2.矿物、土壤、岩石、水泥、铁矿、钒钛锆等氧化物元素定量分析

3.钢样、铝样中微量元素定量分析

4.其他无标物的半定量元素分析

5.不挥发性液体或乳膏体样品元素分析

6.制样方法：压片、融片、液体滤纸样品

7.结果模式：单质、氧化物、CCD 

需要注意的是：一般采用半定量测试，测试深度为毫米级，可作为一种快速的无损分析；如能提供标准样品，可做定量分析。 

六、样品要求

1.样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品；

2.粉末样品：样时需将样品105℃烘干，磨细（可以过200目筛的样品无需研磨），粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，特殊情况除外；含碳元素含量超过10%的样品，需先将样品烧成灰再测试；

3.块状、薄膜样品：块状样品尺寸在10mm - 45mm之间，标明测试面（表面光滑平整）

4.样品需自拟编号，包装好，写上号码，以免混淆；

5.严禁有放射性、毒性、酸碱腐蚀性、挥发性等对设备和操作人员产生危害的样品；

6.需尽可能配合测试人员，提供有关委托项目的必要信息，如样品用途、可能成分等。如不提供，按未知样处理。 

七、应用案例

1.铜矿元素分析

对铜矿石进行粉碎，筛分，通过圆锥四分法取样进行元素分析，得到铜矿石铜含量20.3%，并得到铜矿石中含有Mg、Al、S等其他元素。 

定量半定量结果展示：

2.CCD在基板材料分析中的应用展示

通过XRF-CCD得出基板Zr、Sr、Fe、Mn、Ti、K、Ca、P为主要元素，并且得到元素在基板仪器校准分布图。