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能量色散X射线荧光分析仪CIT-3000SM（G）
能量色散X射线荧光分析仪CIT-3000SM（G）是一款基于能量色散X射线荧光技术的高精度多元素分析仪器，通过激发样品产生特征X射线并检测其能量与强度来快速测定元素种类及含量，为确保其检测数据的准确可靠，必须通过专业的仪器校正（精准校准能量分辨率、强度线性及元素灵敏度等关键参数），使其在地质勘探、冶金质检、环境监测等领域实现精准可靠的元素分析。
仪器简介
能量色散X射线荧光分析仪CIT-3000SM（G）是我公司研发的一款先进设备，它具备快速且精准地检测岩石、矿物等样品中元素含量的能力。这款分析仪在地质研究和矿产资源勘查领域发挥着至关重要的作用，能够为用户提供宝贵的信息。
在矿产勘探的实际应用中，CIT-3000SM（G）能够迅速而准确地识别出矿石中的元素，如：金（Au）、银（Ag）、锡（Sn）、钨（W）和碲（Te）等。这些关键数据的提供，为矿产资源的评价和开发提供了不可或缺的支撑，有助于决策者做出更为精准的决策。
适用范围
地质勘探与矿产资源评价、矿物分析、环境监测与土壤污染检测；
技术参数
探测器：GL0210低能锗探测器；
探测器冷却方式：液氮制冷；
X射线管压：120KV；
X射线管流：10mA；
X射线管冷却方式：水冷；
仪器供电：AC220V±10%，50Hz±0.2Hz；
主机功率：1200W；
测量对象：W、Ag、Au、Sn、Te等；
检出限：2ppm；
含量测量范围：5ppm-99.9%；
分析时间：≤15min；
