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X荧光分析仪CIT-3000SMA/DF
X荧光分析仪CIT-3000SMA/DF是用于固态样品元素快速分析的高精度设备，其通过X射线激发并探测特征荧光能谱实现多元素同步测定。为确保定量结果的准确性，仪器需定期采用有证标准物质对能量刻度、强度-浓度工作曲线及基体效应进行系统性仪器校准，以消除漂移误差，保障在合金、矿产等分析中数据的可靠性与溯源性。
X荧光分析仪CIT-3000SMA/DF是一款采用能量色散X射线荧光技术的高效多元素分析仪器，通过激发样品产生特征X射线并精准检测其能量与强度来快速测定元素种类及含量，为确保检测数据的准确性和可靠性，必须定期进行专业的仪器校准（包括标准样品比对、能量分辨率优化及强度线性度调整），使其在地质勘探、冶金质检、环境监测等领域实现精准可靠的元素分析。
仅适用于东北、内蒙地区
整机主要技术指标
（1） 大功率X光管，高压发生器0~50KV可调；
（2） 探测器灵敏度高，采用美国“Amptek”公司近年来开发出的电制冷Si-PIN半导体探测器，能量分辨率：优于160ev(55Fe)；
（3） 稳定性：0.1；
（4） 温度系数≤0.0004/℃工作环境温度-15℃～30℃；
（5） 仪器分析精度：标准偏差≤0.1%（按连续12次分析同一样品所得数据进行统计）；
仪器分析误差：
a、|仪器分析值－真值|≤国家一级标准分析误差，合格率90％；
b、|仪器分析值－化分值|≤两倍国家一级标准分析误差，合格95％；
（6） 本仪器对各有色黑色金属矿石、烧结矿、球团、炉渣、各种非金属矿、水泥生料、熟料等对象主要元素含量的重复测量精度均达到国家标准要求；
（7） 样品制样要求：提供15克左右、粒度150目以上样品；
（8） 分析速度快，在2-5分钟内即可分析全部待测元素的含量；
（9） 仪器主机规格：60cm×60cm×60cm量：80kg；
（10） 整机功耗：200W。
