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计量检测针描法特点
计量检测针描法特点为表面粗糙度测量提供了高精度、非破坏性的技术路径。该方法通过金刚石触针沿被测表面匀速滑行，将微观几何起伏转换为电信号，经放大处理后形成反映表面轮廓的针描曲线。计量检测时，其核心特点表现为测量精度高（可达纳米级）、适用范围广（可测Ra0.012~10μm）、实时性强且对被测件无损伤。检测过程中需严格控制触针压力（通常≤0.75mN）、扫描速度（0.1~10mm/s）及环境振动（≤1μm/s），通过标准粗糙度样块比对校准，确保测量数据溯源至国家表面粗糙度基准，为精密加工表面质量评定提供可靠的技术保障。
针描法（触针式表面粗糙度测量）具有以下特点：
测量原理
通过触针在被测表面划过，测量垂直位移变化推导表面轮廓参数，属于接触式测量。
适用范围
适用于测量硬度不低于HRC20的加工表面，可测Ra值范围为0.02μm至5μm，覆盖绝大多数工业加工表面的检测需求。
测量特性
1.局限性：受针尖半径影响，无法检测过小的微观轮廓变化；Ra值大于5μm的表面易导致金刚石触针折损。
2.优势：测量结果稳定可靠、重复性好，可测内外表面、复杂曲面及非金属表面，效率高且客观。
功能扩展
现代仪器可同步完成粗糙度、波纹度、轮廓误差等数十种参数测量，并支持三维形貌分析。
针描法用触针式表面粗糙度测量仪测量表面粗糙度有以下特点：
计量检测由于是接触测量，适用于测量硬度不低于HRC20的加工表面。由于触针针尖半径的影响，不能反映出被测表面上过小的轮廓峰谷，而R值大于5um的表面，容易使性脆且贵重的金刚石触针折损，因此，针描法可测范围为R值，可测量生产中绝大多数工件的加工表面R值。
仪器检测可测多种形式的内外表面和形状复杂的曲面，包括非金属和五光泽表面，适应性优于光切显微镜和干涉显微镜。仪器校准操作方便，测量效率高，测量结果客观可靠。既有高精度的计量实验室用台式仪器，也有适于生产现场使用的便携式仪器，应用广泛。
仪器校验可测多种粗糙度参数值。目前，功能齐全的仪器可测参数达几十种之多，粗糙度、波纹度、轮廓（形状误差和半径分析）一次测量便可完成，并可进行三维形貌测量。计算机控制测量过程和数据处理，测量结果数字显示，这种被测的轮廓图形可随时调用。
本文出自博罗计量仪器校验中心。
