X荧光分析仪CIT-3000SMG型

X荧光分析仪CIT-3000SMG型

X荧光分析仪CIT-3000SMG型是一款基于能量色散X射线荧光技术的高精度元素分析仪器，通过激发样品产生特征X射线并检测其能量与强度来快速测定多种元素的种类及含量，为确保其检测性能符合国家计量标准与行业精度要求，必须经过严格的仪器检定（全面验证仪器稳定性、测量准确性及重复性等关键指标），使其在地质勘查、冶金分析、环境监测等领域发挥精准可靠的成分分析作用。

产品说明、技术参数及配置:

能量色散X荧光分析仪CIT-3000SMG，是新先达公司2014年推出的新型的X荧光分析仪。该仪器采用大功率水冷的X光管进行激发，采用了国外先进的电制冷探测器半导体进行探测，数字化谱分析技术，2048/4096道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成几十种元素的快速、准确分析。

适用范围:

核工业：多种废液中微量放射性元素的成份分析；

环保行业：各种液体有害重金属元素的成份分析；

性能特点:

1.采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；

2.采用大功率水冷X光管激发样品，功率大，计数率高，对微量重元素有较高的激发效率；

3.采用先进的进口的电致冷SDD半导体探测器，分辨率高，计数率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测；

4.高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流O-2mA连续可调。软控控制，精度高，无故障操作；

5.计算机软件直接控制，管流、管压等参数，可以根据分析元素种类不同软件自动调整参数；

6.样品种类：液体样品；

7.环境：空气；

8.侧照射式结构，安全可靠，专用的一次性塑料测量样品杯，测量方便，防止样品二次污染；

9.2048/4096道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成；

10.可一次性实现多种微量重金属元素的快速、无损、准确分析；

11.自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定；

12.专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件；

13.全中文Windows应用软件，操作简单；

14.自动滤片切换功能，可以根据不同的样品切换所需的滤片。

技术指标：

1.分析元素：Mg-U，主要是Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As、U等；

2.分析范围：0.01ppm-99.9%；

3.同时分析：十几种元素同时分析；

4.能量范围：1-50keV；

5.测量时间：1-3分钟可以完成全部待测元素的含量分析；

6.探测器的分辨率：127ev；

7.管电压：0-65Kv 管电流：最大2mA；

8.仪器的分析精度：标准偏差≤0.08%；

9.重复性：>65% >97%(N为峰面积)；

10.辐射剂量：<25μsv/h；

11.工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH；

12.電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz。

仪器配置：

1.CIT-3000SMH型荧光分析仪器主机一台；

2.惠普商用计算机一套；

3.惠普激光打印机一台；

4.抽真空系统一套；

5.自动压样机一台；

6.压样模具一套；

7.振动磨样机一台；

8.稳压电源一台；

9.测试分析软件一套。