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X荧光分析仪CIT-3000SMD(C)
X荧光分析仪CIT-3000SMD(C)是用于固态样品元素快速分析的高精度设备，其通过X射线激发并探测特征荧光能谱实现多元素同步测定。为确保定量结果的准确性，仪器需定期采用有证标准物质对能量刻度、强度-浓度工作曲线及基体效应进行系统性仪器校正，以消除漂移误差，保障在合金、矿产等分析中数据的可靠性与溯源性。
X荧光分析仪CIT - 3000SMD(C)作为一款基于能量色散X射线荧光原理的专业元素分析仪器，能够快速、无损地测定样品中多种元素的种类与含量，广泛应用于地质勘探、冶金、环保等领域，为保证其检测结果的准确性与可靠性，需通过专业的仪器校正（精准校准探测器的能量响应、强度线性及元素灵敏度等关键参数）来维持仪器始终处于最佳检测状态。
一、应用领域
有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。
二、性能特点：
♦ 样品平台自动升降，工作十分方便；
♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能最大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；
♦ 抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量；
♦ 先进的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；
♦ 采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；
♦ 更先进的Superfast SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。
三、仪器技术指标
（1）测量范围：1-40keV；
（2）可分析元素范围：Na-U；
（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；
（4）分辨率：120eV；
（5）最低检出限：Pb≤5ppm；
（6）工作环境温度：0-40℃；
（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）
（8）测量时间：10-2550s（时间可调）
（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；
（10）额定功率：300W；
（11）探测器类型：更先进的Superfast SDD探测器；
（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；
（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm
（14）样品腔尺寸：样品腔：300300100mm
（15）重量：约100Kg
